方案優(yōu)勢

見價值對照表

采用標準

相關(guān)標準

方法/原理/步驟

　　【基本原理】

　　系統(tǒng)整體采用非接觸測量方式，通過在流水線中設(shè)置五個工位，分別實現(xiàn)硅片各個參數(shù)的檢測。其中，電阻率、厚度、TTV、P/N型號、Bow/Warp采用電渦流法和電容法實現(xiàn)非接觸自動檢測；輪廓尺寸采用機器視覺技術(shù)實現(xiàn)；隱裂、孔洞缺陷通過紅外視覺技術(shù)實現(xiàn)；表面臟污缺陷通過機器視覺技術(shù)并輔以特殊設(shè)計光源實現(xiàn)；線痕缺陷通過光針掃描技術(shù)實現(xiàn)。

　　【解決方案價值對照表】

儀器設(shè)備

　　【產(chǎn)品描述】

　　該系統(tǒng)可對太陽能硅片的電性能、幾何尺寸、外觀缺陷進行全自動分揀，硅片生產(chǎn)企業(yè)應(yīng)用此系統(tǒng)，替代以往人工檢測方式，大大提高了檢測效率，充分滿足了硅片使用廠家的質(zhì)量要求，同時降低了該企業(yè)和下游企業(yè)的整體質(zhì)控成本，提高了客戶在行業(yè)的競爭力。

　　【規(guī)格指標】

　　(1)能夠適應(yīng)三種規(guī)格單晶硅片檢測需求，包括6吋(邊長125mm×125mm，對角線150mm)、6.5吋(邊長125mm×125mm，對角線165mm)、8吋(邊長156mm×156mm，對角線200mm)；

　　(2)能夠檢測硅片各種缺陷，包括電阻率、厚度、TTV、P/N、線痕、幾何尺寸、臟污、孔洞、隱裂、BOW/WARP；

　　(3)檢測效率：3000片/小時；

　　(4)進料機構(gòu)采用物料籃(花籃)自動進料，物料籃必須與設(shè)備配套使用，人工將物料籃安裝到設(shè)備進料口，安裝過程應(yīng)簡單快捷；

　　(5)合格標準可設(shè)定，以適應(yīng)區(qū)分不同的質(zhì)量級別；

　　(6)具備硅片分選功能。一個分選模塊有6個分選工位，各工位的分選標準可以自定義，既可以將每個分選工位設(shè)置成一種缺陷的幾個等級(等級劃分由客戶自定義，但不可超過6級)，也可以將每個分選工位設(shè)置成幾種不同的缺陷(最多設(shè)置6種缺陷)。客戶可設(shè)置缺陷種類的優(yōu)先級，若硅片上具有兩種或多種缺陷時按照客戶定義的優(yōu)先級進行分選；如果認為6個分選工位不能滿足使用要求，則可以購買多臺分選模塊；

　　(7)上、下料及檢測過程中防止硅片碰傷與損壞，碎片率要求<0.1%；可以進行數(shù)據(jù)存儲、統(tǒng)計、分析、查詢及圖表繪制等。配備網(wǎng)絡(luò)接口，可以進行測量設(shè)備現(xiàn)場聯(lián)網(wǎng)統(tǒng)一控制管理。測量結(jié)果能夠打印輸出；

　　(8)設(shè)備具備安全防護功能，實現(xiàn)自動保護。配備急停裝置，發(fā)生緊急情況時可立即停止設(shè)備，防止意外傷害；

　　(9)采用模塊化設(shè)計，便于維護和維修。

【應(yīng)用擴展】

　　此解決方案經(jīng)適量修改，也可適用于太陽能電池板、多晶硅、單晶硅檢測等。