熔體物性綜合測定儀

技術指標：PID程序控溫，精度10度儀器用途：測定冶金熔渣的粘度、密度和表面張力。PID程序控溫，精度10度收費標準：校內：100元/樣，校外：200元/樣機組負責人：傅明喜  139528993...

江蘇大學

真空感應熔煉爐

技術指標：反應功率：60kw坩堝容量：25kg反應器額頻率：2500Hz反應器額定電壓：375V最高溫度：1600℃冷態極限真空度：0.00667Pa冷卻水水壓：0.15MPa儀器用途：熔煉，透熱，淬火等...

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真空感應熔煉定向凝固爐

技術指標：容量：坩堝容積1～5kg（鋼）鑄模拉速范圍：0.1～10mm/min（下降）拉模行程：50mm/min（回位）拉模工作振動指標：400行程內振動小于0.1kg、擺動量小于50μm熔化周期：小于30min極...

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高真空單輥旋淬及電弧熔煉真空吸鑄系統

技術指標：1、極限真空度：單輥旋淬室6.6×10-5Pa（冷態）電弧/真空吸鑄熔煉室6.6×10-4Pa（冷態）2、單輥旋淬輥輪表面線速度：0～50m/s3、單棍旋淬石英熔煉坩堝加熱區：Ø18×504、紅...

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雙室真空油淬氣冷爐

技術指標：1、最高溫度1300℃2、加熱功率40KW3、爐溫均勻度≤±5℃4、空爐升溫時間≤30min(室溫至1050℃)5、極限真空度≤4×10-1Pa6、壓升率5.0×10-1Pa/h7、裝爐量60kg儀器用...

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近地光學顯微鏡

技術指標：標準Aurora-2系統的成像能力，其專利的共振音叉技術、閉環線性掃描管技術、狹縫光路和優化的機械構造使Aurora-3成為最高級的近場光學掃描顯微鏡系統。ScanMaster技術提供無比的掃描線...

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掃描探針顯微鏡

技術指標：聯合了非破壞性掃描、簡便的樣品制備和固定以及光學成像于一體，能夠實現與電子顯微鏡相比擬的橫向納米級分辨率和縱向A級分辨率，其放大倍數比標準光學顯微鏡大兩個數量級，但不象電...

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高真空電子束微觀監測刻蝕系統

技術指標：分辨率:3.0nm@30KV（SEandW）2.0nm@30KV(SEwithLab6option)4.5nm@30KV(VPwithBSD)；加速電壓:0.2―30KV；放大倍數:7―1000000x；視野范圍:6mm；X-射線參數:8.5mmWD，35...

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原位納米力學測試系統

技術指標：可以實現多種加載模式，加載載荷范圍為：1uN-1mN儀器用途：可以在光鏡模式以及原位成像模式下對材料表面進行壓痕試驗，獲得材料的彈性模量及硬度值。收費標準：電話聯系商議機組負...

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激光焊接系統（激光器）

技術指標：最大平均功率250W波長1064nm模式為多模焦距110mm電壓400-750V頻率：1-500Hz脈寬0.3-20ms儀器用途：1）同種或異種塑料的焊接2）（光）電子元件的釬焊3）小于2mm的金屬薄板...

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高分辨透射電子顯微鏡

技術指標：加速電壓：200kV；分辨率：點分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm；放大倍數：×2,000-1,500,000（MAG模式）；樣品傾斜角度：35。儀器用途：主要對各種固體、粉體、納...

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熱場發射掃描電子顯微鏡

技術指標：加速電壓：0.5～30kV；分辨率：1.2nm（30kV）、3.0nm（1kV）；放大倍數：10×―500,000×；成像信號：二次電子、背散射電子。儀器用途：主要用于對固體、粉體材料表面形貌、微觀組...

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CCD-單晶X-射線衍射儀

技術指標：*儀器用途：該儀器具有固定靶X射線發生器（鉬靶），檢測器為Saturn724+CCD面探測器，并配備有低溫附件,主要用于測試單晶樣品。通過對測試結果深入分析，可以得到構成物質的原子在...

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超導核磁共振波譜儀

技術指標：BBO探頭：1、1H分辨率(溶于氘代丙酮的3％CHCl3)：2903、13C分辨率(溶于氘代苯的P－二氧六環)：190MAS探頭：1、13C分辨率(甘氨酸)：653、15N靈敏度(甘氨酸)：...

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基質輔助激光解附飛行時間串聯質譜儀

技術指標：略儀器用途：主要用于蛋白質分子量測定，多肽指紋圖譜，多肽序列測定。收費標準：面議機組負責人：李軍  0511－88792767  ...

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便攜式輻射光譜儀

技術指標：靈敏度線性：±1％波長范圍：350－2500nm波長精度：±1nm光譜分辨率：3nm@700nm/10nm@1400nmand2100nm儀器用途：該儀器適用于從遙感測量、土壤肥力快速測量、農作物生長監測與估...

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等離子體發射光譜儀

技術指標：光譜范圍：175～785nm分辨率：≤0.009nm(200nm處)功率可調范圍：700～1500W，多級可調，調節步長≤50W儀器用途：該儀器可同時測定紫外區和可見區的ICP發射譜線（175～785nm范圍內...

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微納米生產加工測試系統

技術指標：略儀器用途：用于制備各種薄膜。還可以將玻璃與金屬、合金或半導體鍵合在一起。收費標準：面議機組負責人：程廣貴  0511－88791548  ...

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光學掃描及照相測量系統

技術指標：單幅測量范圍：350×280mm/100×80mm儀器用途：快速成型；快速加工；逆向工程；測量數據與原有模型公差比較（質量控制）收費標準：面議機組負責人：楊建風  13952945866&n...

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汽車底盤測功儀

技術指標：略儀器用途：適用于車輛排放污染物測試，提供科研、產品檢測服務。收費標準：面議機組負責人：孫平  0511－88791248  ...

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