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http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢 預約須知 注意：預約前請?zhí)崆芭c項目經理溝通。 1，粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑小于3cm，厚度小于1cm。 2，如果樣品由于您要求不噴金而導致效果不好，測試老師不安排復測。 3，請務必仔細檢查您的樣品，若發(fā)現以弱磁強磁充當非磁 或者 以強磁充當弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實驗，不承擔以此造成的時間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導致儀器損壞，需要您承擔全部賠償責任！！！ 掃描電子顯微鏡SEM 型號：jeol jsm7500f；Zeiss Gemini 300；Zeiss Sigma 500日立Regulus8100；Quanta FEG 250等 測試項目： 形貌、點掃、線掃、mapping 備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝 樣品要求： 一、制樣說明 粉末、液體、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬小于1cm，厚度小于1cm 1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導電膠上測試，如需分散后測試請?zhí)崆罢f明； 2、液體樣品，測試老師根據樣品要求及實驗室條件，隨機選擇滴到導電膠、硅片或鋁箔上，如有指定要求請?zhí)崆罢f明； 3，薄膜或塊體，請標明測試面，如需測試截面，請自行自備截面或提前說明 預約須知 注意：首次下單用戶下單前請聯(lián)系項目經理確認需求 1，粉體、液體、塊體均可測試 2，樣品的厚度不超過100nm，如果顆粒稍大一點，可適當研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大小）； 3，一般制樣選微珊銅網即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網或者鉬網等；薄膜或塊狀樣品需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等） 4，強磁樣品要求顆粒大小不超過200nm，且不接受自己制樣 5，請務必仔細檢查您的樣品，若發(fā)現以弱磁強磁充當非磁 或者 以強磁充當弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實驗，不承擔以此造成的時間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導致儀器損壞，需要您承擔全部賠償責任！！！ 透射電子顯微鏡TEM 型號：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 測試項目： 可測項目：形貌、能譜點掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射 備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝 樣品要求： 1. 樣品狀態(tài) 粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無法直接測試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請?zhí)崆罢f明并確認