TEM-mapping分析、檢測(cè)、透射電鏡mapping測(cè)試
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TEM-mapping分析、檢測(cè)、透射電鏡mapping測(cè)試
——浙大柘大化工檢測(cè)中心:羅工13336185021,QQ1835971532
一般電鏡上只配了DC電子束偏轉(zhuǎn)線圈,只有配了掃描附件之后,也就是在DC線圈上疊加一個(gè)AC線圈之后,可以控制電子束平行于光軸在樣品上掃描,一般如有STEM的話,就可以做Mapping。
TEM是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射電子顯微鏡的分辨率為0.1~0.2nm。
浙大柘大化工檢測(cè)中心提供成分分析、配方分析、測(cè)試、檢驗(yàn)、化驗(yàn)、檢測(cè)服務(wù)。分析測(cè)試時(shí)間短、準(zhǔn)確率高。