TEM分析、TEM檢測、透射電子顯微鏡測試
發表時間:(2016-07-22 11:25:18) 點擊量:32
TEM分析、TEM檢測、透射電子顯微鏡測試
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透射電子顯微鏡(縮寫TEM)簡稱透射電鏡,用于觀察超微結構,即小于0.2微米、光學顯微鏡下無法看清的結構,又稱“亞顯微結構”。TEM分析技術是以波長極短的電子束作照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率(1nm)、高放大倍數的電子光學分析技術;
用電鏡(包括TEM)進行樣品分析時,通常有兩個目的:一個是獲得高倍放大倍數的電子圖像,另一個是得到電子衍射花樣;
TEM常用于研究納米材料的結晶情況,觀察納米粒子的形貌、分散情況及測量和評估納米粒子的粒徑。是常用的納米復合材料微觀結構的表征技術之一。
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