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F30透明/半透明膜膜厚測(cè)試儀

F30透明/半透明膜膜厚測(cè)試儀，膜厚儀，薄膜測(cè)厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務(wù)）主要用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚。產(chǎn)品簡(jiǎn)介： *是監(jiān)測(cè)薄膜沉積的最有效工具，可安裝在任何真空鍍膜機(jī)腔體外的窗口，實(shí)時(shí)監(jiān)控長(zhǎng)晶速度，實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚、 n 、 k 值以及半導(dǎo)體和絕緣體涂層的均勻性。可加裝三個(gè)探頭，同時(shí)測(cè)量三個(gè)樣品，有三種不同波長(zhǎng)選擇 ( 波長(zhǎng)范圍從可見光 400nm 至近紅外1700nm)； *測(cè)量的薄膜厚度范圍從 15nm 到 250um； *測(cè)量精度優(yōu)于1% 。主要特點(diǎn)： *測(cè)量精度高，優(yōu)于 1% ； *測(cè)量速度快，幾秒鐘內(nèi)可完成測(cè)量； *整套設(shè)備可放置在沉積室外； *操作簡(jiǎn)單，使用方便； *價(jià)格便宜應(yīng)用領(lǐng)域: *分子束外延MBE； *金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積MOCVD； *材料研究； *光電鍍膜應(yīng)用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。

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馮先生