檢測認證人脈交流通訊錄
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Sphere-3000反射率測試儀
Sphere3000是一套波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
技術參數
型號
Sphere-3000(I型)
Sphere-3000(III型)
檢測范圍
380~800nm
360~1100nm
波長分辨率
1nm
1nm
相對檢測誤差
﹤1%
﹤0.5%
測定方法
與標準物比較測定
被測物再現性
±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm)
±0.05%以下(2σ) , (410nm~800nm)
±0.1%以下(2σ),(380nm~410nm) ;±0.05%以下(2σ) ,(410nm~1100nm)
單次測量時間
﹤1s
精度
0.3nm
被測物N.A.
0.12(使用10×對物鏡時) 、 0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸
直徑>1mm
厚度>1mm(使用10×對物鏡時)
厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)
被測物
測定范圍
約φ60μm(使用10×對物鏡時) ; 約φ30μm(使用20×對物鏡時)
設備重量
約15kg(光源內置)
設備尺寸
300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環境
水平且無振動的場所
溫度:23±5℃;
濕度:60%以下、無結露;
操作系統
Windows XP, Windows Vista,Win7
軟件
分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定
尺寸
480*400*580mm
Sphere3000反射率測試儀-特點:
顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm)
CIE顏色測定 X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等
檢測速度快 高性能探測器,能在幾秒內實現重現性高的測定
背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率
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