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檢測認證人脈交流通訊錄
- 石英晶體微天平QSense Explorer
**********儀器簡介**********
QCM-D技術的核心是石英晶體傳感器，它由石英晶體夾在兩片電極中間形成三明治結構。在電極兩端加入一個交流電壓，在傳感器的共振頻率處引發一個小的剪切振動，當交流電壓關閉后，振動呈指數衰減，這個衰減被記錄下來，得到共振頻率(f)和耗散因子(D)兩個參數。
對于薄層硬質薄膜，可以使用Sauerbrey關系和公式，根據傳感器振動計算吸附層的質量。當沉積的薄膜松散和粘性時，能量通過薄膜上的摩擦被消耗，傳感器的振動發生衰減，耗散因子提供了傳感器上吸附的薄膜的結構信息。通過使用多個頻率和耗散因子數據，使用粘彈性模型而非Sauerbrey關系，我們可以計算得到質量（mass）、厚度（thickness）、粘度（viscosity）和彈性（elasticity）。
越來越多發表的科學文獻證明了QCM-D系統的技術可靠性。該技術的核心是石英晶體在負載電壓下以一個特定頻率振蕩。當晶體上的質量改變時，振蕩的共振頻率也會隨之變化。通過這種方法，可以在納克級靈敏度上測定質量變化。這種*的QSense 設計可以同時測量耗散因子，從而提供薄膜的結構和粘彈性信息。它可以提供諸如吸附膜的分子結構、厚度、水含量的信息。此外還可以檢測反應前、進行中和結束后的表面吸附層的變化。耗散因子是指當電路斷開后震蕩的晶體頻率降低到0的時間快慢。任何可在芯片上形成薄膜的物質都可以進行免標記測試，這些物質包括聚合物、金屬和化學改性表面。實時測試系統每秒可提供高達200個數據點。
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