晶振測(cè)試儀/晶體阻抗計(jì)GDS-80

• 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
• /晶體阻抗計(jì)GDS-80是高性?xún)r(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。
• /晶體阻抗計(jì)GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿(mǎn)足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。

• 主要技術(shù)指標(biāo)    

1. 中心頻率范圍： 20KHz-100MHz任意設(shè)定   
2. 負(fù)載電容：4-20P 任意設(shè)定
3. 負(fù)載諧振電阻：1Ω-300Ω  1K-300K
4. PPm范圍測(cè)量：±300ppm
5. PPm測(cè)量精度：< 0.5ppm
6. 時(shí)基頻率：16.384M    
7. 晶振穩(wěn)定性：2×10-8 /日  
8. 體積：80×235×305（mm）
9. 保修期：三年

• 特點(diǎn)

1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示
2. 無(wú)需人工校對(duì)，直接測(cè)試多種參數(shù)
3. 新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿(mǎn)足國(guó)人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備
4. LCD顯示 
5. PPm超標(biāo)提示功能   

• 儀器配置 

1. GDS-80晶振測(cè)試儀/晶體阻抗計(jì)1臺(tái)
2. 電源線(xiàn) 1根 
3. 保修卡一張
4. 說(shuō)明書(shū) 1份