晶振測試儀GDS-80系列

一、產(chǎn)品簡介

晶振測試儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進行數(shù)據(jù)通迅。

晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

依據(jù)標準：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第一部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》 ；

二、主要技術(shù)指標    

1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）  
3. 負載電容：1-100P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm）  測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

1. 負載電容CL測量范圍：1-200PF
2. 時基誤差：±1ppm 
3. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
4. 配件：插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（標配），貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。