檢測認證人脈交流通訊錄
- 本膜厚測量儀適用于nm及um級薄膜厚度測量，測量的空間分辨率（測量點的大小）可達10um，厚度測量準確度為nm級。 此款膜厚測量儀適用于： 顯示器、觸摸屏、太陽能電池、R2R 光學鍍膜等產業的薄膜厚度測量 光學材料參數測量、彩色濾光片色度及穿透率測量。(如：Oxide, Nitride, ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等樣品) 技術參數： 1.厚度測量范圍：10 nm ~ 30 μm (采用Ocean Optics 光譜儀) (Optional: up to 250 μm) 2.厚度測量重復性：< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si 3.測量點大小 : Macro(~3 mm) (Optional 選項加顯微鏡 : 10 μm – 3 mm) 4.測量時間：< 1 sec 5.其它功能：折射率(n)及消光系數(k)測量 反射率(R)及穿透率(T)測量 色度參數(x, y, Y, L*, a*, b*)測量 (Optional:在線檢測、實時8-16 通道測量) 6. 機臺尺寸：長寬高約31*27*30 (cm)。
