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TH2820型LCR數(shù)字電橋

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性能特點 : 實用的簡易型LCR電橋帶背光20×2的字符液晶顯示掃頻清零功能四檔分選高性價比簡要介紹: TH2820型LCR數(shù)字電橋，采用微處理器控制的微型臺式儀器。可測量電感L、電容C、電阻R、阻抗Z，以及損耗因子D和品質(zhì)因數(shù)Q六種最基本的參數(shù)，可滿足各元件廠家和維修人員的測試要求。廣泛的測量對象：無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng) 絡元件等的阻抗參數(shù)測量。其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。多種元件、材料特性測量能力揭示電感器件的多種特性 TH2828/A卓越的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以精確地分析磁性材料、電感器件的性能。使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以精確測量高頻電感器件、通訊變壓器，濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置，可使偏置電流達40A以精確分析高功率、大電流電感器件。精確的陶瓷電容測量 1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度，六位分辨率和自動電平控制（ALC）功能等，中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。液晶單元的電容特性測量電容－電壓（C－Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C－Vac特性遇到一個問題是最大測試電壓不夠。使用TH10301選件可提供分辨率為1%及最高達20Vms的可編程測試信號電平，使它能在最佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。半導體材料和元件的測量進行MOS型半導體制造工藝評價時，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C－Vdc特性的測量結(jié)果推導出來。 20HZ－1　MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。為了測試晶圓上的半導體器件，需要延伸電纜和探頭，儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至最小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。適應多種領域的測試需要新材料、新元件的研究開發(fā) TH2828/TH2828A具有的0.05%/0.1%基本準確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細微變化，尤其對損耗器件的測試具有良好的性能。提高生產(chǎn)效率 TH2828/TH2828A　30次/秒的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內(nèi)建比較器、電纜長度補償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。內(nèi)建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。應用廣泛的品質(zhì)檢驗手段儀器具備的20Hz-1　MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。 TH10301　及　TH1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。用戶友好的操作界面簡化的前面板操作儀器配置的320x240點陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。非易失性存儲器以保存多種儀器設置 TH2828/A提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設置，TH2828還具有外部USB存儲卡進行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進行數(shù)據(jù)設置/調(diào)用。這將減小參數(shù)的設置錯誤并提高用戶使用效率。靈活的數(shù)據(jù)通訊方式 TH2828/TH2828A提供有GPIB并行通訊（TH2828A）接口，為多機通訊并組成自動測試系統(tǒng)提供了可能，同時，儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計算機進行遠程通訊。技術參數(shù): 測試參數(shù) L-Q, C-D, R-Q, Z-Q , Z-D 測試頻率 100 Hz, 120 Hz ,1 kHz 測試電平 0.3 Vrms (1±10%) 基本準確度 0.3% 顯示范圍 L:　　　　1 μH – 9.999 kH ( 100/120 Hz) 　　　　　 0.1 μH – 999.9 H ( 1 kHz) C:　　　　 1 pF – 9.999 mF (100/120 Hz) 　　　　　 0.1 pF – 999.9 μF (1 kHz) R, |Z|:　　1 mΩ – 999.9 MΩ D/Q:　　　 0.0001 – 9999 Δ%:　　　 0.0001% – 9999% 測量速度 3次/秒等效電路串聯(lián)/并聯(lián) 量程方式自動/保持清零功能開路/短路掃頻清零測量端 5端顯示方式直讀、Δ、Δ% 比較器功能四檔: NG / P1 / P2 / P3 一般技術指標工作溫度, 濕度 0℃ — 40℃, ≤90% RH 電源要求 198 V — 242 V AC, 47.5 Hz — 52.5 Hz 功耗 ≤10 VA 尺寸(W×H×D) 274 mm×110 mm×260 mm 重量約2.3 kg 訂貨信息：隨機附件 TH26004-1 開爾文測試電纜可用選件 TH26001 四端測試夾具 TH26005 四端測試夾具 TH26006 軸向元件測試模塊（與TH26005配合使用） TH26007 磁環(huán)測試夾具 TH26008 SMD 元件測試夾具 TH26009 SMD 元件測試鉗 TH26010 鍍金短路板 TH26011 四端開爾文測試電纜 TH26012 四端開爾文測試電纜

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