平面光學(xué)元件光譜分析儀（型號(hào)：PR-YB01） 

 
測(cè)試類型：
 
1.光學(xué)元件的反射
 
2.透射光譜測(cè)量多角度絕對(duì)
 
3.相對(duì)反射率測(cè)量，透射率測(cè)量
 
4.反射/透射比及膜性測(cè)量 
 
 
適宜測(cè)量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能
 
 
波長(zhǎng)范圍：380~1000nm/600~1200nm）
 
角度位移范圍：2.5~357.5°
 
最小角位移：0.01°
 
波長(zhǎng)分辯率：0.03nm~10nm（由所選波長(zhǎng)范圍確定）
 
測(cè)量最大相對(duì)誤差：<1.0%
 
動(dòng)態(tài)范圍：2×108，1300：1（單次測(cè)量）
 
校正線性度：99.8%
 
單次測(cè)量時(shí)間：100ms（最小）
 
功耗：200W電源： 210~245V - 45~60Hz
 
信號(hào)接口：USB 2.0（USB 1.1 兼容）
 
操作系統(tǒng)：Windows