檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 2600系列數(shù)字源表 主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn): 一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能：精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器 接觸檢測(cè)功能確保了高速及準(zhǔn)確的測(cè)量 每秒10,000個(gè)讀數(shù)和5,500個(gè)源-測(cè)量點(diǎn)記錄到存儲(chǔ)器，提供了更快速的測(cè)試 內(nèi)置的測(cè)試腳本處理器(TSP™)提供非并行系統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試，將I-V測(cè)試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍 2600系列提供寬動(dòng)態(tài)范圍：1pA到10A，1μV到200V TSP-Link™主/從控制架構(gòu)將多臺(tái)2600數(shù)字源表無(wú)縫地整合成一個(gè)系統(tǒng)，將其作為一獨(dú)立的儀器進(jìn)行編程和控制 免費(fèi)的測(cè)試腳本編輯軟件--Test Script Builder，可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測(cè)試腳本，實(shí)現(xiàn)用戶特定的測(cè)試功能 免費(fèi)的LabTracerTM2.0 軟件，無(wú)需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線，易學(xué)易用 每個(gè)40W,3A的通道都是獨(dú)立的，從而保證了高度的測(cè)量完整性和配置的靈活性 業(yè)界最高的SMU機(jī)架密度特別適合自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用 2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、極具性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試。基于最初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù)，2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。專利的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 (10,000 讀數(shù)/s)，源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) (5,500 點(diǎn)/s)。這種高速的源-測(cè)量能力加上先進(jìn)的自動(dòng)化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。 相關(guān)應(yīng)用: 對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析，包括： 分立的和無(wú)源的元器件 雙引腳 - 電阻、盤(pán)驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻 三引腳 - 雙極型小信號(hào)晶體管(BJT)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)等 并行測(cè)試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列 簡(jiǎn)單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)、傳感器 •集成的器件－小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI) 模擬IC 射頻集成電路(RFIC) 應(yīng)用定制的集成電路 系統(tǒng)級(jí)芯片(SOC)器件 •光電器件如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、顯示器，上述器件的研發(fā)和特性分析
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