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顯微顆粒圖像儀JX-2000

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出廠價：
0

主要規格：
JX-2000

用　　途：
測試粉體顆粒外觀形貌、粒度分布

JX-2000A型：應用范圍：配置透射顯微鏡，適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化工、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、硬質合金、催化劑、燃料、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料，玻璃纖維，礦巖成分判斷（偏光）。 JX-2000B型：應用范圍：配置透反射顯微鏡，適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、醫藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析；還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結構的觀察測試。主要性能：光學顯微鏡放大成像，專業級攝像頭，高速高分辨率圖像采集卡，圖像動態快速顯示于電腦，直接觀察粉體顆粒的形貌，專用軟件進行粒度分析。全平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學放大倍數1600倍，圖像顯示和打印最大倍數4000倍(A4幅面)。測量范圍：0.5μm～2000μm 分析軟件：提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積等分布數據。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。測量結果：顆粒形貌可存盤打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。測量方法：透射：將樣品置于載玻片上，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。反射：將樣品置于物鏡下方，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。圖像采集：可調整圖像高度、寬度、分辨率等。圖像分析處理： 1.色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整； 2.圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小、任意比例縮放等； 3.測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選； 4.圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等； 5.圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能； 6.分析參數：（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；注：JX-2000B型透射功能和JX-2000A型相同結果打印:多種數據格式

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陳生

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