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檢測認證人脈交流通訊錄
- 該款高速LED檢測系統是堯順科技PCB抄板及芯片解密中心反向研發的，為符合測量精確及LED生產高速測試需求，整合了先鋒科技研發的MegaLED-SGM CCD攝譜儀及高速的MegaLED-3000系列LED電性分析儀, MEGA LED TESTER可用來測試所有LED相關之光學與電性參數。
在生產過程中快速測量LED參數對于儀器是項特別的挑戰，因為符合CIE的測量標準時，出光效率非常低；在這同時，確保生產設備可以有效益生產的運轉，高速的測量時間是必要的，多項的LED的光學與電性參數測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用范圍也必須由小的SMT設計以至于高功率的LED。
Spectral radiant flux ( W/nm ):絕對光譜
Peak wavelength (λp) : 最高波長
Dominant wavelength (Hue；λd )： 色域波長
Center wavelength (λc): 中心波長
Excitation Purity (Chroma；%): 色純度
Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色坐標
C.C.T. (correlated color temperature) : 色溫
C.R.I. (color rendering index ) : 演色指數
該系統確保了主要的測量參數最高精確度及再現性，如LED主波長及的色坐標等，在傳統高速的電性測量速度下，對MegaLED-SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶確實可以減少電子測量的時間，尤其是搭配LED分選機高速的測試需求。
新的可調式使用者接口組態與擴充的數組功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特征系依據統計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與Lamp LED分選設備，都搭配了專用探測模塊。
堯順科技是一家專注于PCB抄板，IC芯片解密，電路板克隆，樣機制作及批量代工等服務，幾十年來為無數的客戶解決了技術上的困擾，深得好評。
詳情登陸http://www.pcbchaoban.net
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