檢測認證人脈交流通訊錄
- USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點： 消除背面反射光采用特殊光學系，消除背面反射光。 不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。 詳細介紹 USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點： 1、消除背面反射光 采用特殊光學系，消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。 2、可測定微小領域的反射率 用對物鏡對焦于小區域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。 3、測定時間短 使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實現再現性很高的測定。 4、XY色度圖、L*a*b測定可能 以分光測定法為基準，從分光反射率情況可測定物體顏色。 5、可測定的Hard Coat（高強度鍍膜）膜厚 用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。 USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途： 1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等） 2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜） 了解更多：https://www.chem17.com/st3598/erlist_1390102.html https://www.chem17.com/st3598/product_25682865.html
