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FIB雙束電鏡

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新一代的賽默飛世爾科技?Helios 5 DualBeam?FIB雙束電鏡具有 Helios 5 產(chǎn)品系列高性能成像和分析性能。它經(jīng)過精心設(shè)計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具有挑戰(zhàn)性的樣品。 Helios 5 DualBeam?FIB雙束電鏡重新定義了高分辨率成像的標準：較高的材料對比度，快、簡單、準確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。在 Helios DualBeam 系列久經(jīng)考驗的性能基礎(chǔ)上，新一代的 Helios 5 DualBeam 進行了改進優(yōu)化，所有這些都旨在確保系統(tǒng)處于手動或自動工作流程的運行狀態(tài)。更易于使用： Helios 5 是所有體驗級別用戶容易使用的 DualBeam。操作員培訓可以從幾個月縮短到幾天，系統(tǒng)設(shè)計可幫助所有操作員在各種高級應用程序上實現(xiàn)一致、可重復的結(jié)果。提高了生產(chǎn)率： Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的先進自動化功能，增強的穩(wěn)健性和穩(wěn)定性允許無人值守甚至夜間操作，顯著提高樣品制備通量。改善時間和結(jié)果： Helios 5 DualBeam 現(xiàn)在包括 FLASH，這是一種調(diào)整圖像的新概念。對于傳統(tǒng)的顯微鏡，每次操作員需要獲取圖像時，必須通過迭代對中仔細調(diào)整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡單手勢將激活 FLASH，將自動調(diào)整這些參數(shù)。自動調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡化高質(zhì)量圖像的采集。半導體行業(yè)技術(shù)參數(shù)：材料科學行業(yè)技術(shù)參數(shù)：　　 Helios 5 CX Helios 5 UX 離子光學　具有優(yōu)越的高電流性能的Tomahawk HT 離子鏡筒具有優(yōu)越的大電流和低電壓性能的Phoenix離子鏡筒離子束電流范圍 1 pA – 100 nA 1 pA – 65 nA 加速電圧 500 V – 30 kV 500 V – 30 kV 大水平視場寬度在光束重合點時為0.9 mm 在光束重合點時為0.7 mm 更多信息：FIB雙束電鏡 http://www.opton17.com/SonList-2220645.html https://www.chem17.com/st439186/product_34324188.html

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