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測(cè)厚儀/涂層測(cè)厚儀/鍍層測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀/涂鍍層測(cè)厚儀/EPK

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主要規(guī)格：
EPK

用　　途：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司 EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn)：　　MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；　　所有型號(hào)均可配所有探頭；　　可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；　　可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。 EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征：型號(hào) 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值) 1 500 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1 數(shù)據(jù)總量 10000 10000 10000 MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar √ √ √ 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar √ √ 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √ √ 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) √ 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 √ √ 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 √ √ √ 其他功能設(shè)置極限值 √ √ 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 √ √ 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) √ √ 連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 √ √ EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù)：　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。　　F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層　　N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層　　FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能探頭量程低端分辨率誤差最小曲率半徑 (凸/凹) 最小測(cè)量區(qū)域直徑最小基體厚度探頭尺寸磁感應(yīng) 法 F05 0-500μm 0.1μm ±(1%±0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±(1%±10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±(1%±10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±(3%±50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩用 FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面 30mm F0.5mm/N50μm φ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50μm φ15x62mm 電渦流法 N02 0-200μm 0.1μm ±(1%±0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%±1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N2 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 1.5/10mm 5mm 50μm φ15x62mm N2/90 0-2000μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N10 0-10mm 10μm ±(1%±25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±(1%±50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±(1%±0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%±1μm) 平面 7mm 無(wú)限制 φ17x80mm 　　F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。　　N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。　　CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭 FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層 F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm) F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(O.1μm) F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層 F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm) F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm) N2/90 0～2000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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