檢測認證人脈交流通訊錄
高加速壽命試驗
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對應法規：Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA
CNAS認可項目：是 - 高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA) 加速應力試驗源由Accelerated Stress Test，簡稱AST/ALT，源起于1960年代因應美國太空計劃對高可靠度的需求而被發展出來。隨著科技高度發展及快速變化的市場需求，過去耗時的產品驗證方式已無法應付如此快速變化的市場需求，進而影響到產品于市場之競爭力。因此，如何快速且有效發現產品設計缺陷并于設計階段加以修正，為現今國內外各大廠之主要關鍵問題，亦即是HALT&HASS逐漸被重視的原因。 眾所皆知，產品在設計階段進行缺陷修正是極為容易的，在大量生產后進行缺陷修正則困難度相對提高。微利時代若產品在市場于保固期內出現缺陷則所花費成本與商譽損失將無法計算。因此1990年代后以美國為首的國際各大廠(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相繼以HALT手法作為新產品開發階段迅速找出產品設計及制造的缺陷，同時改善缺陷已達降低保固期成本、增加產品可靠度并縮短產品上市時間。同時可利用HALT所發現之失效模式與相關數據做為后續研發產品的重要依據。目前有航空電子、汽車及信息等高科技產業皆已投入HALT 領域之測試，并且已有相當成效。 高加速壽命試驗( Highly Accelerated Life Testing –簡稱HALT) 高加速壽命試驗系利用漸進提升應力方式施加于產品，施加應力種類包括六自由度振動、高低溫、快速溫度循環、復合式應力、電力開關循環、電壓邊際及頻率邊際測試等。
