跌落試驗(yàn)通常為模擬兩種落下情況，一種為產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中因裝載或搬運(yùn)不慎造成掉落地面所遭受之撞擊，此種掉落環(huán)境通常產(chǎn)品為包裝狀態(tài)，另一種環(huán)境系針對(duì)手持型產(chǎn)品在未包裝保護(hù)狀態(tài)下因使用不當(dāng)而使產(chǎn)品掉落地面產(chǎn)生撞擊。
自由跌落——這是一種用來(lái)評(píng)價(jià)由于粗率搬運(yùn)而可能經(jīng)受到的跌落效應(yīng)的簡(jiǎn)單試驗(yàn)，該試驗(yàn)也適合于用來(lái)驗(yàn)證強(qiáng)度等級(jí)
重復(fù)自由跌落——該試驗(yàn)是用來(lái)模擬某些元器件型樣品，例如使用中的連接器，可能受到的重復(fù)沖擊的效應(yīng)