低氣壓試驗就是將試驗樣品放入試驗箱(室)，然后將箱(室)內氣壓降低到有關標準規定的值，并保持規定持續時間的試驗。其目的主要用來確定元件、設備或其他產品在在貯存、運輸和使用中對低氣壓環境的適應性。

低氣壓所依據的標準有:

GB2421-1989《電工電子產品基本環境試驗規程總則》

GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM :高溫/低氣壓綜合試驗方法》

GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》

GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法》

GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》

GB T 2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M 低氣壓試驗方法

GJB 150.2-1986軍用設備環境試驗方法 低氣壓(高度)試驗.