測試名稱：斷口組織觀察分析

2、關(guān)鍵詞:斷口分析

3、檢測項目：SEM掃描電鏡

4、目的：斷口組織觀察

1. 已測樣品：

6、實驗設(shè)備：

設(shè)備名稱：SEM+EDS

制造商：HITACHI

設(shè)備型號:S-3700N

放大倍數(shù):5~30萬倍  

   分析元素范圍: Be(4)~U(92)

   最大樣品尺寸: 300 mm

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)有限公司 (富士康華南檢測中心簡稱Foxconn CMC)成立于1996年，配合高科技電子產(chǎn)品設(shè)計、驗證、生產(chǎn)過程中的檢測需求組建科技實驗室，創(chuàng)始團隊匯集科技精英、憑借雄厚的技術(shù)背景和開拓創(chuàng)新精神，在一張白紙上點石成金。華南檢測中心迄今發(fā)展成目前七大功能22個專業(yè)的實驗室，占地6.6萬平方米，主要檢測設(shè)備4300余臺(套) ， 擁有1500人的管理、技術(shù)人員團隊，打造了一個提供快速、精密、準確檢測能力、服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍及全國的大型旗艦實驗室。于2003年取得中國國家合格評定委員會(CNAS) 的初次認可。實現(xiàn)『一份報告、全球通行』。聯(lián)系人：彭濤，聯(lián)系電話：15006283576座機：0512-57785888-26560.地址：江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號