半導(dǎo)體可靠性測試

　　半導(dǎo)體在收音機(jī)、電視機(jī)以及測溫上有著廣泛的應(yīng)用，常見的半導(dǎo)體材料有硅、鍺、砷化鎵等，而硅更是各種半導(dǎo)體材料中，在商業(yè)應(yīng)用上最具有影響力的一種。

　　氣候環(huán)境的變化是產(chǎn)品可靠性中不可忽視的重要因素，氣候環(huán)境測試主要是檢驗(yàn)產(chǎn)品對(duì)各種環(huán)境的適應(yīng)能力，在濕潤、干燥、高溫、低溫、連續(xù)溫度變化或溫度循環(huán)變化、日光老化、霉菌、氣體腐蝕和臭氧等氣候條件下使用或存儲(chǔ)的適應(yīng)性，因?yàn)樗鼤?huì)直接或間接影響產(chǎn)品的可靠性，所以產(chǎn)品是否可靠還必須用氣候環(huán)境試驗(yàn)來證明。

　　半導(dǎo)體氣候環(huán)境測試項(xiàng)目主要包括：

　　氙燈光老化試驗(yàn)--Xenon-arc aging

　　紫外光老化試驗(yàn)--QUV aging

　　臭氧老化試驗(yàn)--Ozone aging

　　鹽霧腐蝕測試——Salt Spray Test

　　硫化試驗(yàn)--Sulphur resistance

　　低溫測試——Low Temperature Test

　　高溫測試——High Temperature Test

　　高低溫變化測試(溫度沖擊試驗(yàn))——Temperature Change Test

　　溫度循環(huán)測試——Temperature Cycle Test

　　溫濕度循環(huán)測試——Temperature & Humidity Cycle Test

　　溫度+濕度+振動(dòng)三綜合試驗(yàn)--Temperature & damp & vibration test

　　上述試驗(yàn)項(xiàng)目比較全面地概括了產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中碰到的外界環(huán)境。實(shí)際測試時(shí)，因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大，企業(yè)可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)，適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來測試，也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法，自行設(shè)計(jì)一些新測試項(xiàng)目，以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長期工作。

產(chǎn)品可靠性測試按其使用環(huán)境所受破壞的主要因素可分為力學(xué)環(huán)境測試、氣候環(huán)境測試等。其工作原理是根據(jù)產(chǎn)品在一定的環(huán)境條件下可能遇到的氣候狀況、環(huán)境狀況、負(fù)載水平等一系列因素，通過一系列測試項(xiàng)目，綜合分析產(chǎn)品或試樣材料的性能，找到故障發(fā)生的原因，并采取消除、預(yù)防措施，從量化方面保證產(chǎn)品或試樣材料的質(zhì)量，確保產(chǎn)品或試樣材料的安全性和耐久性。