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高溫存儲壽命試驗
實驗目的 為了考核高溫對試樣的影響，確定試樣在高溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。 實驗原理 電子元器件在高溫環境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數發生明顯變化或 絕緣性下降。使電子元器件處于高溫下一定時間,考核電子元器件的外觀與電參數是否發生變 化，從而確定電子元器件的抗高溫能力。 實驗參考標準 JESD22-A103、GJB1864A-2011
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