SGS提供表面微區元素分析 測試服務

SGS offer The surface micro area element analysis Testing Services

關鍵詞：表面元素分析 EDS 能譜分析GB/T 17359-2012 微束分析 定性半定量分析

背景：

隨著電子設備線路設計日益復雜，焊料無鉛化的嚴格控制，從而使得化學鎳金工藝的研究和應用越來越被重視并取得了進一步的發展。

PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸的樞紐，PCB已經成為電子信息產品的最為重要的關鍵部分，其質量的好壞與可靠性水平決定了整機設備的質量與可靠性。但是由于成本以及技術的原因，PCB在生產和應用過程中會出現大量的失效問題。

對于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術，從而能保證PCB在制造的時候質量和可靠性水平。

在PCB的分析上，能譜儀可用于表面的成分分析，對焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準確度有限，低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結合使用可以同時獲得表面形貌與成分的信息，這也是能譜儀應用廣泛的原因所在。

應用范圍：PCB、PCBA、FPC等。

測試步驟：將樣品進行表面鍍鉑金后，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用15 kV的加速電壓對測試位置進行放大觀察，并用X射線能譜分析儀對樣品進行元素定性半定量分析。

樣品要求：

非磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發性的固態樣品，小于8CM*8CM*2CM。

參考標準：GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析

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