玻璃組件PID測試第三方檢測機構(gòu)晶體硅62804報告

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我司（安博檢測）測試項目：LID光致衰減，PID(抗電勢誘導(dǎo)衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

1、在組件的PID衰減過程中，溫度因素起到加速老化衰減的作用非常明顯；

2、在組件的PID衰減過程中，水蒸氣分壓（濕度）作為組件PID衰減的主要“誘因”因素，在組件的PID衰減過程中起到關(guān)鍵性作用；

3、在組件的PID測試過程中，導(dǎo)電鋁箔能夠很好的保持組件玻璃表面和內(nèi)部電路之間的電場均勻，平衡個電池片之間的PID衰減作用非常明顯；

4、組件PID測試以60℃、85%RH、-1000V電壓、組件表面貼導(dǎo)電鋁箔為測試條件（環(huán)境），測試時間為96小時比較合適。按照IE61215標準相應(yīng)規(guī)定來判斷組件是否合格。

安博服務(wù)的產(chǎn)品有：

光伏組件，晶體硅組件，太陽能板，光伏電池板，太陽能光伏板，太陽能電池板，光伏器件

太陽能組件，光伏電池板，路燈光伏板，光伏電池片，晶體硅電池片，太陽能電池片，太陽能充電板，單晶光伏組件，多晶光伏組件，雙面電池組件，硅片組件，雙玻組件等