HALT & HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為世界范圍內(nèi)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗證方法。它將原需花費6個月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT & HASS的試驗方式已成為很多新電子產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。為使廣大客戶了解HALT/HASS方法的目的意圖及方法步驟，摩爾實驗室(MORLAB)特簡要介紹如下： 一、HALT（High Accelerated Life Testing）高加速壽命試驗 HALT是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計上的缺限，以及潛在弱點的實驗方法。HALT的主要目的是通過增加被測物的極限值，進(jìn)而增加其堅固性及可靠性。HALT利用階梯應(yīng)力的方式加諸于產(chǎn)品，能夠在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設(shè)計邊際及結(jié)構(gòu)強度極限的方法。其加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循