軍用電子元器件篩選：一次篩選、二次篩選

廣電計(jì)量簡(jiǎn)介：

       廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（廣電計(jì)量）從1964年開(kāi)始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成長(zhǎng)為一家全國(guó)性、綜合化、軍民融合的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn)、產(chǎn)品檢測(cè)及認(rèn)證、分析評(píng)價(jià)、咨詢培訓(xùn)、檢測(cè)裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和 產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

      依據(jù)各?業(yè)及領(lǐng)域客戶的需求，廣電計(jì)量精?打造出涵蓋計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、元器件篩選與失效分析、電磁兼容 檢測(cè)、化學(xué)分析、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測(cè)、環(huán)保檢測(cè)、產(chǎn)品認(rèn)證、技術(shù)咨詢與培訓(xùn)、質(zhì)檢?業(yè)信息化系統(tǒng)開(kāi)發(fā)、測(cè)控產(chǎn)品研發(fā)的?站式計(jì)量檢測(cè)技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過(guò)程。

      廣電計(jì)量可靠性與環(huán)境試驗(yàn)中心具備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、六性設(shè)計(jì)與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設(shè)計(jì)與分析、材料分析與工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)、定壽延壽分析等服務(wù)能力，可為系統(tǒng)、整機(jī)、部件等各類產(chǎn)品提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全過(guò)程技術(shù)解決方案。

我司電子元器件篩選覆蓋范圍：

半導(dǎo)體集成電路：時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器、門(mén)器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲(chǔ)器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;

半導(dǎo)體分立器件∶二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、達(dá)林頓陣列、半導(dǎo)體光電子器件等;

被動(dòng)元件：電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報(bào)器;繼電器;電連接器;開(kāi)關(guān)及面板元件;

電源模塊：濾波器、電源模塊、高壓隔離運(yùn)放、DC/DC、 DC/AC；

功率器件：功率器件、大功率器件；

連接器：圓形連接器、矩形，印刷版插座等。

元器件篩選覆蓋標(biāo)準(zhǔn) ：

GJB 7243-2011軍用電子元器件篩選技術(shù)要求；

GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法； 

GJB 360A-96 電子及電?元件試驗(yàn)方法； 

GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 ； 

GJB 40247A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法； 

QJ 10003—2008 進(jìn)?元器件篩選指南； 

MIL-STD-750D 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法； 

MIL-STD-883G； 

元器件篩選的目的：

1. 剔除早起失效產(chǎn)品。

2. 提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點(diǎn)：

1. 篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。

2. 不改變?cè)骷逃惺C(jī)理和固有可靠性。

3. 對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選。

4. 篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。

元器件篩選測(cè)試項(xiàng)目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗(yàn)、顆粒碰撞噪聲檢測(cè)。

3.環(huán)境應(yīng)?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)?、動(dòng)態(tài)老煉。

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

• 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、
• 電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng)、
• 分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、
• 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、
• 二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測(cè)試需要的設(shè)備：

• 阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測(cè)試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、
• 高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器
• 頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

• 光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測(cè)能力覆蓋：

• 外觀檢測(cè)、內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)、密封性測(cè)試、內(nèi)部缺陷測(cè)試。

業(yè)務(wù)聯(lián)系信息：

李經(jīng)理：138 0884 0060；郵箱：lisz@grgtest.com