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主要技術指標 |
靶材：銅靶銅靶40KV,40mA；掃描角度范圍：2θ：0.6-140度； 精度高，角度重現性達±0.0001°，最小步長為0.0001°；步進馬達 + 光學編碼器確保測角儀快速而準確定位；樣品臺水平固定，適合測試松散固體、塊狀固體、薄膜等；可θ，2θ單獨驅動，工作模式為θ/θ模式；新型的NaI晶體閃爍計數器，具有低背底（0.04 cps），高線性范圍（2×106cps）的特點。 |
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應用技術領域 |
可對多晶以及非晶樣品舉行結構分析，如物相定性以及定量分析，衍射譜圖指標化及點陣參數標定，晶粒尺寸及點陣畸變標定，衍射圖譜擬合批改晶體結構（WPF），殘余應力標定，織構分析（ODF表示立體極圖），結晶度、薄膜標定。高溫衍射，在不同的高溫下進行衍射掃描，從而分析其相變規律。小角衍射等。 |
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學科領域 |
廣泛應用于物理、化學、藥物學、冶金學、高分子材料、生命科學及材料科學。可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體，為科學研究提供準確可靠的數據。 |
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主要功能 |
高溫反應附件：室溫～1300 K，程序控溫，可在真空或空氣環境中測試 ；固體探測器：能量分辨率好，尤其適合金屬材料（有熒光）、微量相（峰弱，要求信噪比好）的檢測；LynxEye 探測器：由192個子探測器陣列組成，良好的低角度測量，該探測器免維護，使用方便；Goebel鏡技術是納米級薄膜分析最有利的工具； KEC阻光刀架薄膜反射平臺：專為薄膜分析而設計，含樣品高度調整、樣品傾斜調整、樣品狹縫調整、樣品真空負吸定位等薄膜分析功能。 |
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主要附件 |
高低溫附件；LynxEye 探測器；固體探測器； 旋轉透射樣品臺； 毛細管樣品臺；薄膜樣品臺；強大的智能化多用途軟件平臺。 |
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樣品要求或共享須知 |
粉末試樣：直接放在塑料（或玻璃）樣品皿中用特制玻璃壓平，平放在樣品臺上測試（如果粉末顆粒比較粗，則需研磨）。固體粉末：大于1g，建議事先處理300目左右 薄膜試樣：直接平放在樣品臺上，進行測試。 塊狀固體：選取一個光潔平整的面，平放在樣品臺上測試。 液體試樣：倒入塑料樣品皿中平放在樣品臺上測試。 |
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收費標準 |
80元/樣，高低溫300元/時。 |
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儀器狀態 |
空閑 |
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共享模式 |
校內共享 |
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儀器地點 |
唐仲英樓L408室 |
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儀器管理員 |
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序號 |
姓名 |
聯系電話 |
電子郵箱 |
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1 |
史紅旗 |
025-83686583 |
shihq@nju.edu.cn |
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檢測認證人脈交流通訊錄
