聯(lián)系人：陳桂芳(66135051)

儀器簡(jiǎn)介：

　　原子力顯微鏡(atomic force microscope，簡(jiǎn)稱AFM)利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細(xì)探針與受測(cè)

樣品原子之間的作用力，從而達(dá)到檢測(cè)的目的，具有原子級(jí)的分辨率。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　高分辨掃描器: XY方向范圍: 9μm x 9μm；Z方向范圍: 2μm

　　大范圍掃描器: XY方向范圍: 90μm x 90μm；Z方向范圍: 8μm

應(yīng)用范圍：

　　生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測(cè)研究；

　　細(xì)胞的表面形態(tài)觀測(cè)；

　　納米材料表面形貌的觀測(cè)。