聯(lián)系人：馬忠權(66136912)

儀器簡介：

　　霍爾系統(tǒng)控制器和溫度控制器等部分組成，能實現(xiàn)半導體及其薄膜材料的電學特性測試，同時通過

液氦冷卻系統(tǒng)可達到對材料的變溫測量。具有測試速度快，數(shù)據(jù)準確的特點。

主要技術指標：

　　技術參數(shù)磁場強度：0.3T;

　　溫度范圍：10K-300K；

　　輸入電流：1nA-20mA;

　　遷移率(cm2/Volt-sec):1-107

　　阻抗(Ohms.cm):10-4 to 107

　　載流子濃度(cm-3):107 - 1021

　　樣品夾具：6mm*6mm及20mm*20mm (PCB6,PCB20)；

應用范圍：

　　測量材料：可應用于各種半導體及其薄膜材料的載流子濃度，電阻率，載流子遷移率及霍爾系數(shù)等

電學性能的常溫或變溫測試包括所有半導體材料，比如：Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型

&P型均可測量)。