聯(lián)系人：陳文覺(jué)(56332496)

儀器簡(jiǎn)介：

　　掃描電子顯微鏡是進(jìn)行樣品表面分析研究的有效工具，尤其適合于比較粗糙的表面如金屬斷口和顯

微組織三維形態(tài)的觀察研究。取向成象分析系統(tǒng)及能譜儀作為附件配備在掃描電子顯微鏡上，使掃描電

子顯微鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步進(jìn)行晶體取向和織構(gòu)分析、微觀結(jié)構(gòu)以及微區(qū)成

分的分析研究。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　1.二次電子象分辯率：35AÅ；

　　2.放大倍數(shù)：20~200000；

　　3.加速電壓：0.5~30kv；

　　4.最大束流：300μA；

　　5.分析元素范圍：Be4-U92

應(yīng)用范圍：

　　適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測(cè)試，包括金屬和非金屬等各種材料。