聯(lián)系人：陳文覺(56332496)

儀器簡介：

　　取向成象分析系統(tǒng)配備在掃描電子顯微鏡上，該系統(tǒng)使掃描電鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎(chǔ)

上，進(jìn)一步進(jìn)行晶體取向、微觀結(jié)構(gòu)的分析研究，大大拓寬和深化了掃描電鏡的研究領(lǐng)域。該系統(tǒng)可進(jìn)

行晶體取向分布測定、取向分布函數(shù)以及極圖與反極圖的顯示和計(jì)算、物相鑒定等。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　入射束為4nA時(shí)，圖象積分時(shí)間<1秒。

應(yīng)用范圍：

　　晶體取向分布測定、取向分布函數(shù)以及極圖與反極圖的顯示和計(jì)算、物相鑒定。