聯系人:陳文覺(56332496)
儀器簡介:
X射線能譜儀配備在掃描電子顯微鏡上,該系統使掃描電鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎上,
進一步進行微區成分的分析研究,大大拓寬和深化了掃描電鏡的研究領域。該系統可進行元素的定性和
定量分析。
主要技術指標:
分析元素范圍:Be4-U92
應用范圍:
適用于各種材料的研究與產品測試,包括金屬和非金屬等各種材料。
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