聯系人：張慧(18916073372)

儀器簡介：

　　日本理學公司D\max-2200 X射線衍射儀可進行物相(單相和混合相)的定性、定量分析、納米粉的粒徑分析以及晶體材料的表征(包括晶粒大小、結晶度、粒徑分布、指標化、點陣常數、晶體擇優取向、微應力等的測定)等,樣品可以包含多晶粉末,有平整平面的片狀、塊狀樣品,礦物,薄膜(超晶格、LB膜等)。

　　1.高溫樣品臺：試樣處于室溫至1500℃狀態下的結構分析。

　　2.低溫樣品臺：試樣處于10K至室溫狀態下的結構分析。

主要技術指標：

　　1.最大額定輸出:3kw;

　　2.額定管壓范圍:20-60KV

　　3.額定管電流:2-80mA

　　4.穩定性:±0.005%之內

　　5.靶：銅靶

　　6.掃描方式：2θ／θ耦合、2θ、θ獨立

　　7. 2θ測角范圍：2.5°-145° 8.測角儀精度：0.0001°