聯(lián)系人：邵敏(66135025,18017535636)

儀器簡介：

　　日本理學(xué)公司D\max-2550，X射線衍射儀可進(jìn)行物相(單相和混合相)的定性、定量分析、納米粉的粒徑分析以及晶體材料的表征(包括晶粒大小、結(jié)晶度、粒徑分布、指標(biāo)化、點(diǎn)陣常數(shù)、晶體擇優(yōu)取向、微應(yīng)力等的測(cè)定)等,樣品可以包含多晶粉末,有平整平面的片狀、塊狀樣品,礦物,薄膜(超晶格、LB膜等)。

　　1.多功能樣品臺(tái)附件：可做薄膜樣品的表層物相鑒定、應(yīng)力分析和極圖分析。

　　2.微區(qū)衍射附件：最小可做10μm的物相分析。

　　3.小角衍射：可做納米粉末的粒徑分析和材料的長周期分析。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　1. 最大額定輸出:18kw

　　2. 額定管壓范圍:20-40KV

　　3. 額定管電流:10-450mA

　　4. 穩(wěn)定性：±0.005%之內(nèi)

　　5. 聚焦面積:0.5x10mm2

　　6. 靶：銅靶

　　7. 測(cè)角儀：2θ/θ耦合、2θ、θ獨(dú)立

　　8. 2θ測(cè)角范圍：2.5°-145° 9. 測(cè)角儀精度：0.0001°