主要技術指標：樣品臺X: 80 mm Y: 40 mm Z: 40 mm T: - 30°～60°R: 360 degrees (endless) SEM部二次電子圖像分辨率3.5 nm (30kV)放大倍數(shù)×20～×300,000加速電壓0.5 to 30 kV (10 V step)最大樣品尺寸φ125 mm EDX部分辨率144eV可檢測元素C～U

功能/應用范圍：基本用途：掃描電子顯微鏡可以對各種材料進行多種形式的表面觀察與分析，在新型材料學科領域中廣泛應用。SUPERSCAN SSX-550是掃描電子顯微鏡(SEM)與能量散射X射線能譜儀(EDX)組合的產(chǎn)品，實現(xiàn)從SEM觀察到EDX分析一體化操作。

主要測試和研究領域：石油/化工    機械    電子/信息技術

收費標準：按樣品、小時數(shù)收費

聯(lián)系信息儀器負責人：萬異,曹惠,林美玉

電話：51630215

 電子郵件：wanyi@fudan.edu.