技術指標:最小束斑: 1.5 nm;放大倍數: 50~900,000;點分辨率: 0.23 nm;晶格分辨率: 0.14 nm
儀器用途:分析各種金屬材料,無機非金屬材料,高分子材料,化學工程材料,納米材料等的微觀形貌、晶體結構,包括明場像、暗場像、選區電子衍射,高倍率放大圖象。配合能譜儀可以對各種元素進行定性、定量及半定量的微區分析
收費標準:一般觀察:200元/樣品;高分辨:400元/樣品;能譜分析:100元/點
機組負責人:徐愛群 52090651
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