負責人：陳寶  電話：020-39943037

主要規格及技術指標

　　技術參數

　　1.粒度測定范圍:0.6nm-6000nm

　　2.濃度范圍:0.1ppm-40%(W/v)

　　3.分子量測定范圍:1,000-10,000,000道爾頓

　　4.高分辨Zeta電位分析:可分辨5mV的Zeta電位差別

　　5.溫度控制范圍:2-90度

　　主要特點

　　1.具有最低的納米粒度下限：可測量亞納米區及高分子大小

　　2.具有最寬的濃度應用范圍：0.1ppm–40% (w/v)。最少樣品量僅0.75ml。

　　3.獨有的高分辨Zeta電位技術：可輕易發現污染物，并可測定高鹽濃度及極低遷移率的樣品

　　4.可對分子量進行測定，包括旋轉半徑和第二維里系數

　　5.唯一具有標準操作規程(SOP)的納米粒度分析儀器。可隨時間及溫度變化進行趨勢分析；與自動滴定儀相連接后，可自動測定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導率變化的，自動測定分子量。

主要功能及特色

　　用于納米粒子的粒度分析、Zata電位測定

樣本檢測注意事項

　　1、粒徑測定時，樣品池內待測樣品高度不能過高(參考工作室蓋上的示意圖)，否則影響樣品溫度的均勻性，加熱時也可能造成樣品液溢出而污染了工作室；

　　2、樣品池內的樣品不能有氣泡，否則影響測定的結果；

　　3.樣品池放入工作室前要用擦鏡紙擦干樣品池的外表面；

設備使用相關說明

　　粒度分析、Zata電位測定