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機(jī)構(gòu)登錄
檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

主要技術(shù)指標(biāo):背景真空:3*10-10 mbar(原指標(biāo));5*10-11 mbar(目前可達(dá)指標(biāo))。配備LEED/Auger, RHEED
功能/應(yīng)用范圍:磁性超薄膜生長和性能測試
主要測試和研究領(lǐng)域:其他
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):其它收費(fèi)方式
儀器負(fù)責(zé)人:金慶原
電話:65642059
電子郵件:qyjin@fudan.edu.cn


