主要技術指標:背景真空:3*10-10 mbar(原指標);5*10-11 mbar(目前可達指標)。配備LEED/Auger, RHEED
功能/應用范圍:磁性超薄膜生長和性能測試
主要測試和研究領域:其他
收費標準:其它收費方式
儀器負責人:金慶原
電話:65642059
電子郵件:qyjin@fudan.edu.cn
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