主要技術指標：美國di公司，掃描探針顯微鏡NanoScope IV原子力顯微鏡(AFM)能立體三維觀察物體形貌，側向分辨率(X-Y方向) 2nm，垂直分辨率(Z方向)0.1nm。具有多種探測(接觸、非接觸、輕敲)模式，多種成像(相檢測、力調制、側向力)方法。可選用3種不同量程的掃描器(X-Y方向，Z方向：125×125m, 5.0m(室溫~250℃)；10×10m, 2.5m；0.4×0.4m，0.4m)。在原子和分子水平上觀察表面拓撲結構及物理性質。

功能/應用范圍：●高分子表面形態、結構鏈堆砌和構象研究●多相高分子組成分布及微尺度性能研究●高分子材料表面摩擦力研究●高分子表面微尺度粘彈性和硬度研究●表面結構與性能隨溫度變化的研究

主要測試和研究領域：材料/珠寶首飾