檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄

主要技術(shù)指標(biāo):分辨率:高真空成像,最佳工作距離0.8 nm @ 30kV (STEM) 1.0 nm @ 15 kV (TLD-SE) 1.4 nm @ 1 kV (TLD-SE),非減速模式3.5 nm @ 100 V (DBS)高真空分析,分析工作距離3.0nm @ 15 kV & 5nA (TLD-SE)低真空成像,最佳工作距離1.5 nm @ 10 kV (Helix探測(cè)器) 1.8 nm @ 3 kV (Helix探測(cè)器)
功能/應(yīng)用范圍:主要是對(duì)樣品進(jìn)行形貌觀察和成分分析
主要測(cè)試和研究領(lǐng)域:石油/化工


