預(yù)約須知

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過(guò)5微米，提供20mg，尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理；

3. 粉末/液體樣品請(qǐng)務(wù)必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時(shí)間及配制濃度；

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長(zhǎng)寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過(guò)5um，一定要標(biāo)明測(cè)試面！

5. 測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他問(wèn)題請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。

 

原子力顯微鏡AFM

型號(hào)：Bruker Dimension Edge；Bruker Dimension ICON等

 

測(cè)試項(xiàng)目：

a. 粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度測(cè)試

b. 生物/纖維樣品的表面形貌

c. 相圖

d.  PFM（壓電力顯微鏡）, EFM（電場(chǎng)力顯微鏡）, KPFM（表面電勢(shì)，Kelvin探針）, MFM（磁力顯微鏡）, CAFM（導(dǎo)電原子力顯微鏡），QNM（彈性模量），力曲線等特殊模式。

更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理;

 

樣品要求：

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過(guò)5微米，提供20mg，若尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理；

3. 粉末/液體樣品請(qǐng)備注好制樣條件，包括分散液，超聲時(shí)間及配制濃度；

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長(zhǎng)寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過(guò)5um，一定要標(biāo)明測(cè)試面！若尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理

5. 測(cè)試壓電、表面電勢(shì)的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他問(wèn)題請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。

 

常見(jiàn)問(wèn)題及回答：

為什么AFM測(cè)試樣品顆粒或者表面粗糙度不能過(guò)大？

因?yàn)槌叽邕^(guò)大，會(huì)碰到儀器探針針尖，針尖易磨鈍以及受污染，且磨損無(wú)法修復(fù)，污染則清洗困難 。

 

AFM拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預(yù)期不符合？

AFM拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因?yàn)樵恿︼@微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關(guān)；

 

結(jié)果展示：

測(cè)試原始文件格式FLT格式或MDT格式可分別用Nanoscope analysis 和Nova 1138軟件打開(kāi)。

 

服務(wù)簡(jiǎn)介

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，在物理領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。

基于原子力顯微鏡的單細(xì)胞力譜技術(shù)的誕生，改變了生命科學(xué)以生物化學(xué)為基礎(chǔ)的傳統(tǒng)研究模式，開(kāi)辟了以力學(xué)表征為基礎(chǔ)的全新研究視角，是生命科學(xué)研究方法的重要突破。目前該技術(shù)已經(jīng)被大量用于醫(yī)學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域的研究中。

本儀器結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，激光掃描顯微鏡以及探針顯微鏡功能的一體機(jī)。

 

服務(wù)參數(shù)

120nm水平分辨率，1nm垂直顯示分辨率，10nm垂直掃描分辨率。

 

檢測(cè)項(xiàng)目

測(cè)試項(xiàng)目：2D、3D、粗糙度、高度、溝痕深度。

 

樣品要求

樣品無(wú)磁性，塊體，薄膜，粉末均可，粉末樣品請(qǐng)務(wù)必寫(xiě)清楚分散劑以及超聲時(shí)間，塊狀樣品不超過(guò)2cm*2cm。

 

常見(jiàn)問(wèn)題及解答

為什么AFM測(cè)試粗糙度不能太大？

因?yàn)锳FM測(cè)試是掃描探針接觸式測(cè)試，樣品表面粗糙度太大，會(huì)磨損探針。