新型CMI900系列即時分析儀代表了牛津儀器（OXFORD INSTRUMENTS）鍍層厚度測量和材料成份分析技術的一次重大飛躍。軟件和硬件領域的新進步提高了我們X線系列產品的性能。CMI900系列能夠測量極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。 區別材料并測量氮化鈦鍍層。CMI900系列分析儀能夠即時分析黃金和其它貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成份的先進技術中獲益。 像我們所有的儀器一樣，這個系列的儀器也由牛津儀器集團提供技術支持。我們保證在售前和售后都提供卓越的服務。 測量和材料分析系統軟件 所有Oxford X線熒光系統都配備有Oxford Smartlink FP系統操作軟件包。這是一種基于windows的綜合性基本參數軟件程式。 規格簡介 無標準效準：Oxford支持使用標準以解決順應性和系統優化問題 包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體 5層/15種元素/普通元素效正 同時為多達15種元素進行成份分析 貴重金屬分析和金純度檢查 材料與合金元素分析 材料鑒定與區別 吸收測量方式 液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液 系統自動調整和效正：效正X線導管、探測器和電子設備的變化 光譜計數速率峰值位移效正 重疊熒光峰值數字峰值反卷 定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達四個光譜 Oxford統計數字和報告產生器LE（輕型） Oxford SmartLink 補充軟件系列 Oxford統計數字和報告產生器 配備數據庫的Oxford統計數字和報告產生器 Oxford即時分析 Oxford材料區別 Oxford Percent P 有了Oxford SmartLink補充軟件系列，您就能夠將原始數據轉變成強有力的資訊。所有的Oxford統計數字和報告產生器都讓您根據自己的需要選擇定制報告。統計數字軟件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范圍，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，組織圖，X-bar/R。所有的性質都可以用多媒體形式做圖表演示。用戶可以輸入測量元件的數字圖像或CAD文件，并把它們直接放在品質報告上。 配備數據庫的Oxford統計數字和報告產生器：與上面相同，但包含一個完整的數據庫。數據庫總共包含十個可追蹤域，其中八個為用戶定義域。元件號和日期/時間域為標準域。通過用戶選擇索引對數據進行存檔、索引和分類處理。 Oxford即時分析、材料區別和Percent P等選項，能夠為您的具體應用優化CMI900系列儀器的功能。這些選項可能包含附加軟件、定制功能和附加硬件，以提高系統性能。 激勵 下視X線。X線射束90度采樣 風冷微聚焦X導管，提供鎢、鉬和其它陽極。 電力：最大瓦特，4-50kv可編程，0-1.5mA 準直管：多個（最多6個），可編程，圓形，矩形（我們將幫助您選擇適合于您應用的準直管） 主要過濾器：提供各種厚度及材料 X線探測器和信號處理 X線探測器：密封氙氣正比計數器；提供其它填充氣體 探測器過濾器：最多3個，5個位置，可編程-馬達驅動；提供釩、鐵、錫、和其他元素 高速探測器信號處理電子設備，具有峰值位移校正功能 樣品處理 樣品室：密封（950系列）或開縫（900系列） 在X、Y、Z軸上可編程馬達驅動控制 高清晰度、實時、彩色樣品示圖，15〞（38.10cm）（標準）或17〞（43.18cm）（選項） 彩色樣品圖像捕獲和打印 激光樣品聚焦 電腦產生十字線，準直管尺寸指示器，用于樣品準定位 可變聚焦距離控制，以適應變化的樣品外型 樣品變大：選擇30、50、或100放大。提供固點聚焦距離或可變聚焦距離選項 測量