檢測認證人脈交流通訊錄
FE-SEM測試_FE-SEM檢測_場發射掃描電鏡_服務
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- 原理
依據電子與物質的相互作用。樣品表面加一個強電場，樣品表面勢壘降低，由于隧道效應，樣品金屬內部的電子穿過勢壘從金屬表面發射出來，這種現象稱場發射。亮度高約比普通SEM高100倍，分辨率可達10nm.
儀器技術參數
二次電子分辨率: 1.4nm (1 kV，減速模式)
放大倍率: x 20~ x 800,000
電子槍: 冷場發射電子源
送樣要求
粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.
應用領域
1.金屬、非金屬及復合材料的觀察分析；
2.納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統計；
3.微區成分的定性、定量計算，并對重點區域做元素分布圖；
4.可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量；
5.機械設備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。
適用標準
GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
專業、高效、精準、高性價比是劑拓公司的服務宗旨。
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